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Datenblatt

Untersuchung hexagonaler Kristallstrukturen mit Röntgenstrahlen / Debye-Scherrer-Pulververfahren

Artikel-Nr.: P2541505

Prinzip

Eine polykristalline Zirkoniumfolie wird mit Röntgenstrahlung durchstrahlt. Die resultierenden Debye-Scherrer-Reflexe werden fotografisch registriert und ausgewertet.

Aufgaben

  1. Registrieren Sie die Debye-Scherrer-Reflexe einer dünnen, polykristallinen Zirkoniumfolie fotografisch.
  2. Ordnen Sie die einzelnen Ringreflexe den entsprechenden Netzebenen zu.
  3. Berechnen Sie die Gitterkonstanten von Zirkonium.
  4. Bestimmen Sie die Atomanzahl in der Einheitszelle.

Themenfelder

  • Charakteristische Röntgenstrahlung
  • Bravais-Gitter
  • Reziproke Gitter
  • Millersche-Indizes
  • Atomfaktor
  • Strukturfaktor
  • Bragg-Streuung

Lieferumfang

XR 4.0 expert unit Röntgengerät, 35 kV 09057-99 1
XR4 X-ray Einschub mit Kupfer-Röntgenröhre 09057-51 1
XR4 Röntgengerät Erweiterungsset Strukturanalyse 09145-88 1
 
PHYWE Systeme GmbH & Co. KG
Robert-Bosch-Breite 10 – 37079 Göttingen – Deutschland
www.phywe.com
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