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Datenblatt


Cantilever, Kontaktmodus, 10 Stck, für compact AFM

Artikel-Nr.: 09710-00
Funktion und Verwendung

Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).

Ausstattung und technische Daten

  • Für Messungen im Kontaktmodus
  • Material: Si, monolithisch
  • Reflexbeschichtung: Aluminium
  • Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
  • Spitzenradius: kleiner 10nm
  • Resonanzfrequenz: 13 kHz
  • Federkonstante: 0,2 N/m
  • Länge: 0,45mm
  • Breite: 0,05mm
  • 10 Stück
  • Gewicht: 0,04 kg

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